雷射取樣繞射元件可以讓高功率雷射光束沿著光軸不受影響的傳遞,而取樣出低能量的兩個光束,兩個光束夾著特定的角度傳播,可以藉由這兩個光束,對雷射作即時的監控,包含功率、能量、脈寬、光束品質、波長等參數。 以Fused Silica或ZnSe為基材,蝕刻繞射圖案,鍍上抗反射膜,可以勝任在高能量或高功率雷射的應用,且可以適合UV-IR各種不同波長的雷射,雷射取樣繞射元件不受雷射的輸出模態的影響,但會有最小的入射光束直徑限制。 標準產品列表使用說明: 先輸入左方Wavelength(λ)欄裡面的波長。 右方表格會依據剛輸入的波長列出相關的標準產品。 Sampled Energy[%]: 取樣光束相對於原始光束的能量。 Sampled Angle[deg]: 取樣光束分離的角度。 請按此連結到標準產品列表